光電二極管檢測(cè)費(fèi)用

免費(fèi)初檢。因檢測(cè)項(xiàng)目以及實(shí)驗(yàn)復(fù)雜程度不同，需聯(lián)系工程師確定后進(jìn)行報(bào)價(jià)。

檢測(cè)時(shí)間：一般3-10個(gè)工作日（特殊樣品除外）。有的項(xiàng)目可加急1.5天出報(bào)告。

光電二極管檢測(cè)報(bào)告用途

報(bào)告類(lèi)型：電子報(bào)告、紙質(zhì)報(bào)告(中文報(bào)告、英文報(bào)告、中英文報(bào)告)。

檢測(cè)用途： 電商平臺(tái)入駐；商超賣(mài)場(chǎng)入駐；產(chǎn)品質(zhì)量改進(jìn)；產(chǎn)品認(rèn)證；出口通關(guān)檢驗(yàn)等

檢測(cè)范圍：

光電二極管等。

檢測(cè)項(xiàng)目：

正向電壓、暗電流、反向擊穿電壓、結(jié)電容、陣列串?dāng)_、反向擊穿電壓溫度系數(shù)、響應(yīng)度、內(nèi)響應(yīng)度非均勻性、間響應(yīng)度非均勻性、發(fā)射極擊穿電壓、飽和壓降、上升和下降時(shí)間、電流等。

依據(jù)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

YD/T 835-1996 雪崩光電二極管檢測(cè)方法

SJ/T 2214-2015 半導(dǎo)體光電二極管和光電晶體管檢測(cè)方法

GB/T 23729-2009 閃爍探測(cè)器用光電二極管.試驗(yàn)方法

SJ/T 2216-2015 硅光電二極管技術(shù)規(guī)范

SJ/T 2354-2015 PIN、雪崩光電二極管檢測(cè)方法

GB/T 21194-2007 通信設(shè)備用的光電子器件的可靠性通用要求

YD/T 2342-2011 通信用光電子器件可靠性試驗(yàn)方法

GB/T 15651-1995 半導(dǎo)體器件 分立器件和集成電路 第5部分:光電子器件

JB/T 5186-1991 照相機(jī)用硅光電二極管

SJ 2354.3-1983 PIN、雪崩光電二極管暗電流的檢測(cè)方法

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