紅外折射率檢測(cè)費(fèi)用

免費(fèi)初檢。因檢測(cè)項(xiàng)目以及實(shí)驗(yàn)復(fù)雜程度不同，需聯(lián)系工程師確定后進(jìn)行報(bào)價(jià)。

檢測(cè)時(shí)間：一般3-10個(gè)工作日（特殊樣品除外）。有的項(xiàng)目可加急1.5天出報(bào)告。

紅外折射率檢測(cè)報(bào)告用途

報(bào)告類型：電子報(bào)告、紙質(zhì)報(bào)告(中文報(bào)告、英文報(bào)告、中英文報(bào)告)。

檢測(cè)用途： 電商平臺(tái)入駐；商超賣場(chǎng)入駐；產(chǎn)品質(zhì)量改進(jìn)；產(chǎn)品認(rèn)證；出口通關(guān)檢驗(yàn)等

檢測(cè)中心提供的

紅外折射率檢測(cè)

檢測(cè)項(xiàng)目：

紅外折射率檢測(cè)。

GB/T 40293-2021 紅外硫系光學(xué)薄膜折射率檢測(cè)方法

GB/T 34184-2017 紅外光學(xué)玻璃紅外折射率檢測(cè)方法 偏折角法

GB/T 7962.17-2010 無色光學(xué)玻璃檢測(cè)方法 第17部分：紫外、紅外折射率

GB/T 7962.17-1987 無色光學(xué)玻璃檢測(cè)方法 紫外、紅外折射率檢測(cè)方法 小偏向角法

GB/T 7962.18-1987 無色光學(xué)玻璃檢測(cè)方法 紫外、紅外折射率檢測(cè)方法 自準(zhǔn)直法

GB/T 33826-2017 玻璃襯底上納米薄膜厚度測(cè)量 觸針式輪廓儀法

GB/T 36969-2018 納米技術(shù) 原子力顯微術(shù)測(cè)定納米薄膜厚度的方法

BS ISO 17328-2014 光學(xué)和光子學(xué). 光學(xué)材料和元件. 紅外光學(xué)材料折射率的試驗(yàn)方法

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